概要:
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
● LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
● 可以用于無線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
特點(diǎn):
1.阻抗分析儀IM3570測(cè)量方式：壓電元件的共振特性的測(cè)量
LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測(cè)量和峰值比較器功能對(duì)共振狀態(tài)進(jìn)行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測(cè)量進(jìn)行檢查。掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量一臺(tái)儀器全部實(shí)現(xiàn)。
規(guī)格表:
